
導入 MoSe₂/WSe₂ヘテロ構造に代表される二次元遷移金属ダイカルコゲナイド(TMD)は、**層間励起子( […]
半導体物理に関する記事をまとめたカテゴリーです
導入 MoSe₂/WSe₂ヘテロ構造に代表される二次元遷移金属ダイカルコゲナイド(TMD)は、**層間励起子( […]
第一原理計算によるフォノン計算についてまとめる。
計算に使用するソフトウェアはQuantum Espressoである。
John L.B.編集の”High-Power GaAs FET Amplifiers” […]
GaN中の点欠陥の形成エネルギーや準位を第一原理計算で計算した論文を紹介します。 タイトル:A first-p […]
GaN HEMT関連の論文へのリンクをまとめました。
アブストラクトの要約つきです。
XRDや電子線回折などを用いて結晶を評価するときや、第一原理計算で材料物性を計算するときなど、結晶の格子の面間 […]
序文 近年、多くの家庭で調理の主力としてIHクッキングヒータが広く使われるようになりました。そのシンプルで洗練 […]
MIS構造において、一般的には絶縁膜は1種類の単層膜だが、2つの異なる絶縁膜を積層した構造をとる場合もある。そのときのフラットバンドシフトの計算と電圧をかけた時に絶縁膜の間に蓄積する分極電荷を計算する。
Si MOSFETに限らず、SiCパワーデバイス、GaN HEMTにおいても高誘電率ゲート絶縁膜が用いられてき […]
エピタキシャル成長した結晶の品質をはかる指標に転位密度があげられ、転位が少ないほど品質が良い。転位密度はX線回折測定によって、各面方位の半値幅を評価することで算出することができる。この記事ではGaNのエピタキシャル層の転位密度を求めることを考え、XRD測定で得られた半値幅から転位密度に換算する式を紹介する。
最近のコメント